- خانه
- >
اخبار
چگونه خطاهای ثانویه کلمپ را در جهت گیری و برش دقیق کریستال حذف کنیم؟
۱. چالشهای دقت در علم مواد: در زمینه تحقیقات مواد پیشرفته - به ویژه در مورد مواد نیمههادی با شکاف باند وسیع مانند کاربید سیلیکون (SiC) و نیترید گالیم (GaN) - جهتگیری کریستال از اهمیت تعیینکنندهای برخوردار است. حتی انحراف تنها 0.1 درجه میتواند منجر به نوسانات قابل توجهی در تحرک الکترون، رسانایی حرارتی و کیفیت رشد اپیتاکسیال شود.
2026/04/20
ادامه مطلب
آخرین قیمت را دریافت می کنید؟ ما در اسرع وقت (ظرف 12 ساعت) پاسخ خواهیم داد